Растровый электронный микроскоп JEOL JSM 6490 с приставками для энергодисперсионного и волнового микроанализа Oxford Inca и дифракции обратно рассеянных электронов - EBSD HKL

Уральский федеральный университет
14 сентября 2018
586
Классификация оборудования
Приборы для микроскопических исследований
Страна, регион, город Российская Федерация, Свердловская область, Екатеринбург
Страна производства Япония
Год производства 2007
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 10 млн руб
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Проведение электронно-микроскопических исследований по изучению изломов, реплик, полированных и травленных поверхностей материалов; химического состава отдельных фаз; кристаллографической ориентации зерен друг относительно друга; изучение морфологических особенностей выделения вторых фаз, вплоть до наноразмерного уровня.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Комплект для визуального анализа на базе микроскопа "Микромед" 2 вар. 3-20 РФ Аренда, Заказ исследования Омск
Камера для микроскопа Nikon DS-Fi2 5.0 Mega Pixels Color Digital Camera Head Япония Аренда, Заказ исследования Петропавловск-Камчатский
Модуль для тестирования НЕКСТ РФ Аренда, Заказ исследования Якутск
Комплект приставок для проведения тонких исследований на трансмиссионном электронном микроскопе Tecnai 20 Великобритания Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Цифровая камера для микроскопа DCM35 (350k pixels, USB2.0), 2-07 РФ Аренда, Заказ исследования Кострома
Комплекс оборудования для неразрушающей металлографии UHL Германия Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Настольный автоматический напылительный комплекс токопроводящих покрытий для растровой электронной микроскопии Quorum Technologies Q150T ES Великобритания Аренда, Заказ исследования Краснодар
Электромеханическая ячейка "GPI" с прецизионной механикой и электронным блоком управления процессом изготовления игл для СТМ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Источник бесперебойного питания в комплекте(для просвечивающего микроскопа) США Аренда, Заказ исследования Новосибирск