Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
Страна производства | Япония |
Год производства | 2009 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Стоимость предоставления услуг | от 8 000 руб. |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Назначение: исследование в различных режимах растровой электронной микроскопии неровных поверхностей в низком и высоком вакууме с высоким разрешением до *300 000 (характера излома, трещиноватости, коррозии, морфологии продуктов износа объекта или его преобразования); исследование неоднородности образца за счет превосходного разрешения мелкомасштабных деталей в режиме композиционного контраста, экспресс–оценка соотношения различных фаз, неразрушающий рентгеновский микроанализ элементов от B до U; определение аморфного состояния или типа кристаллической решетки для 7 сингоний в отдельном участке поверхности образца с помощью Crystal-приставки; исследование неоднородных материалов методами линейного сканирования и EDS-картирования, в том числе процессов диффузии, характера изменения концентраций элементов вблизи границ фаз. Исследование образцов в низковакуумном режиме работы без напыления токопроводящим слоем, в том числе стекла, керны со следами нефтепродуктов, геммологические образцы и т.д. Минералогия, геология, палеонтология, металлургия, разработка новых материалов.