Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV (Jeol)

Назначение: исследование в различных режимах растровой электронной микроскопии неровных поверхностей в низком и высоком вакууме с высоким разрешением до *300 000 (характера излома, трещиноватости, коррозии, морфологии продуктов износа объекта или его преобразования); исследование неоднородности образца за счет превосходного разрешения мелкомасштабных деталей в режиме композиционного контраста, экспресс–оценка соотношения различных фаз, неразрушающий рентгеновский микроанализ элементов от B до U; определение аморфного состояния или типа кристаллической решетки для 7 сингоний в отдельном участке поверхности образца с помощью Crystal-приставки; исследование неоднородных материалов методами линейного сканирования и EDS-картирования, в том числе процессов диффузии, характера изменения концентраций элементов вблизи границ фаз. Исследование образцов в низковакуумном режиме работы без напыления токопроводящим слоем, в том числе стекла, керны со следами нефтепродуктов, геммологические образцы и т.д. Минералогия, геология, палеонтология, металлургия, разработка новых материалов.