Растровый электронный микроскоп JSM-7001F (Jeol) с катодом Шоттки (термополевая эмиссия)
14 сентября 2018
559
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2009 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 10 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследования структурно-химических особенностей твердых образцов (горных пород, руд, минералов, сплавов, керамик и т.п.), анализ образцов в точке, а также распределение химических элементов по линии или площади с использованием EDS-спектрометра в диапазоне элементов от B до U. Область применения: минералогия, металлургия, разработка новых материалов.