Двулучевой микроскоп JIB-4500 (Jeol), включающий РЭМ с LaB6-катодом и Ga -ионную пушку
14 сентября 2018
582
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 10 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Области применения: исследование твердых образцов после выполнения разрезов ионным лучом с микронным разрешением с последующим изучением срезов в режимах РЭМ с EDS- анализом; исследование пленок, покрытий, гетерогенных по глубине образцов.
Область применения: минералогия, металлургия, технология покрытий.
Область применения: минералогия, металлургия, технология покрытий.