Двулучевой микроскоп JIB-4500 (Jeol), включающий РЭМ с LaB6-катодом и Ga -ионную пушку
14 сентября 2018
360
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
Страна производства | Япония |
Год производства | 2011 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Стоимость предоставления услуг | от 10 000 руб. |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Области применения: исследование твердых образцов после выполнения разрезов ионным лучом с микронным разрешением с последующим изучением срезов в режимах РЭМ с EDS- анализом; исследование пленок, покрытий, гетерогенных по глубине образцов.
Область применения: минералогия, металлургия, технология покрытий.
Область применения: минералогия, металлургия, технология покрытий.