Растровый электронный микроскоп-микроанализатор JEOL JXA 8600S
14 сентября 2018
326
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
Страна производства | Япония |
Год производства | 2006 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Стоимость предоставления услуг | договорная |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
• неразрушающий многоэлементный анализ в области от 3 мкм от натрия до урана при содержаниях до 0,005% и
• исследование неоднородности твердых образцов с высоким разрешением до *100 000, определять распределение химических элементов методом линейного и площадного сканирования.
• исследование неоднородности твердых образцов с высоким разрешением до *100 000, определять распределение химических элементов методом линейного и площадного сканирования.