Измерение вольтамперных характеристик полупроводниковых приборов (ЦКП «Гетероструктурная СВЧ-электроника и физика широкозонных полупроводников»)
14 сентября 2018
392
| Виды услуг | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | — |
| Ориентировочная стоимость | от 1 603 руб. |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
| Описание опыта выполнения аналогичных услуг | — |
Описание
Область микро- и наноэлектроники, физики конденсированных сред/ физики твердого тела, для испытаний электронных приборов, субмикронных структур и приборов на новых физических принципах, при проведении исследований на стойкость компонентов радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) к воздействию ионизирующих излучений. С использованием данного прибора проведены измерения параметров опытных образцов субмикронных КМОП тестовых структур для специализированных сверхбольших интегральных схем (СБИС).