Измерение удельного сопротивления (ЦКП «Гетероструктурная СВЧ-электроника и физика широкозонных полупроводников»)
14 сентября 2018
379
| Виды услуг | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | — |
| Ориентировочная стоимость | от 1 353 руб. |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
| Описание опыта выполнения аналогичных услуг | — |
Описание
Электрофизические измерения полупроводников. Электроника, материаловедение, нанотехнологии. Измерение удельного сопротивления образцов методом Ван-дер Пау на образцах квадратной формы с омическими контактами в углах квадрата. Измерение эффекта Холла (фиксированное магнитное поле 0,55 Т). Измерение температурных зависимостей в интервале температур 77-340 К. Размер образцов (сторона квадрата) от 5×5 мм до 15×15 мм. Для измерения температурных зависимостей при низких температурах необходима заливка жидкого азота.