Эллипсометрия (ЦКП «Гетероструктурная СВЧ-электроника и физика широкозонных полупроводников»)
14 сентября 2018
445
| Виды услуг | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | — |
| Ориентировочная стоимость | от 1 142 руб. |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
| Описание опыта выполнения аналогичных услуг | — |
Описание
Нанотехнологогии, полупроводниковые элементы, фотоэлектрические преобразователи энергии, солнечные батареи, плоские дисплеи и мониторы, различные функциональные (в т.ч. оптические) покрытия, биотехнологии и адсорбционные технологии. Измерение толщин слоев, получать для каждого слоя зависимости коэффициентов рефракции и экстинкции от частоты света, а также вычислять специфические параметры, например, ширину запрещенной зоны для полупроводников.