Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия HRXRD (ЦКП «Гетероструктурная СВЧ-электроника и физика широкозонных полупроводников»)
14 сентября 2018
358
| Виды услуг | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | — |
| Ориентировочная стоимость | от 1 856 руб. |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
| Описание опыта выполнения аналогичных услуг | — |
Описание
Материаловедение, материалы для микроэлектроники, наноматериалы, изучение свойств материалов и контроль качества в исследовательских целях и на производстве. Анализ тонких пленок - толщина, текстура / ориентация, качество интерфейса, структурное совершенство, плотность, деформация / напряжение.
Порошковая дифрактометрия - фазовый анализ, оценка степени кристалличности, размер кристаллитов / анализ остаточных напряжений, прецизионные измерения параметров решетки, анализ по методу Ритфельда.
Порошковая дифрактометрия - фазовый анализ, оценка степени кристалличности, размер кристаллитов / анализ остаточных напряжений, прецизионные измерения параметров решетки, анализ по методу Ритфельда.