Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия HRXRD (ЦКП «Гетероструктурная СВЧ-электроника и физика широкозонных полупроводников»)

14 сентября 2018
116
Виды услуг
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Регламент предоставления услуги
Оборудование, с использованием которого выполняется услуга
Ориентировочная стоимость от 1 856 руб.
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет
Описание опыта выполнения аналогичных услуг

Описание

Материаловедение, материалы для микроэлектроники, наноматериалы, изучение свойств материалов и контроль качества в исследовательских целях и на производстве. Анализ тонких пленок - толщина, текстура / ориентация, качество интерфейса, структурное совершенство, плотность, деформация / напряжение.
Порошковая дифрактометрия - фазовый анализ, оценка степени кристалличности, размер кристаллитов / анализ остаточных напряжений, прецизионные измерения параметров решетки, анализ по методу Ритфельда.