Измерение статических параметров полупроводниковых приборов в диапазонах от 0,1 до 2000 В и от 50 нА до 100 А (ЦКП «Гетероструктурная СВЧ-электроника и физика широкозонных полупроводников»)
14 сентября 2018
447
| Виды услуг | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | — |
| Ориентировочная стоимость | от 1 710 руб. |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
| Описание опыта выполнения аналогичных услуг | — |
Описание
Проверка параметров полевых и биполярных транзисторов, диодов, тиристоров, оптопар, стабилитронов и др. полупроводниковых приборов на всех стадиях жизненного цикла данных изделий – при разработке, испытаниях, на производстве и входном контроле ЭРИ в полном соответствии с требованиями нормативной документации: ГОСТ 20398: полевые транзисторы; ГОСТ 24613: оптические пары; ГОСТ 19138: тиристоры; ГОСТ 18604, ГОСТ 27264: биполярные транзисторы; ГОСТ 18986: диоды и стабилитроны.