Анализ на сканирующем электронном микроскопе высокого разрешения «S-3400N» японской фирмы «HITACHI»
14 сентября 2018
454
| Виды услуг | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Пермский край, Пермь |
| Регламент предоставления услуги | Услуги предоставляются в рамках договорных отношений |
| Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | — |
| Ориентировочная стоимость | договорная |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
| Описание опыта выполнения аналогичных услуг | — |
Описание
Анализ состояния поверхности, дефектов, образцов бумаги, калийных руд, калийных удобрений, образцов сплавов, антикоррозионных материалов, защитных покрытий, лаков, пленок, полупродуктов и отходов химических, горно-химических, металлургических и машиностроительных предприятий.
Разрешающая способность при пользовании детектором вторичных электронов: 3,0 нм (ускоряющее напряжение 30 кВ, при работе с высокой степенью разрежения)
Разрешающая способность при пользовании детектором обратно рассеянных электронов: 4,0 нм (ускоряющее напряжение 30 кВ, при работе с низкой степенью разрежения). Степень увеличения - от 5 до 300 000.
Разрешающая способность при пользовании детектором вторичных электронов: 3,0 нм (ускоряющее напряжение 30 кВ, при работе с высокой степенью разрежения)
Разрешающая способность при пользовании детектором обратно рассеянных электронов: 4,0 нм (ускоряющее напряжение 30 кВ, при работе с низкой степенью разрежения). Степень увеличения - от 5 до 300 000.