Определение элементного состава образца с использованием приставки к электронному микроскопу XFlash 4010 фирмы «Брукер» (Германия)
14 сентября 2018
288
| Виды услуг | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Пермский край, Пермь |
| Регламент предоставления услуги | Услуги предоставляются в рамках договорных отношений |
| Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | — |
| Ориентировочная стоимость | договорная |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
| Описание опыта выполнения аналогичных услуг | — |
Описание
Количественный и качественный анализ химических элементов в диапазоне от углерода С(6) до урана U(92).
Система позволяет проводить анализ в точке, в нескольких точках, по области, сканирование по линии (линейный профиль концентрации), записывать карты распределения химических элементов по поверхности образца (картирование).
Система позволяет проводить анализ в точке, в нескольких точках, по области, сканирование по линии (линейный профиль концентрации), записывать карты распределения химических элементов по поверхности образца (картирование).