Измерения параметров и характеристик объектов микро и нанотехнологий методами растровой электронной микроскопии, просвечивающей электронной микроскопии, сканирующей зондовой микроскопии, Рамановской и ИК-Фурье спектроскопии, рентгеновской дифрактометрии и

Аттестация, калибровка, поверка средств измерений, разработка и аттестация методик выполнения измерений, методик калибровки и аттестации, испытания с целью утверждения типа средств измерений, разработка и создание стандартных образцов, измерение физико-химических свойств, состава, структуры конденсируемых сред и др.