Проведение анализа с измерением геометрических размеров, определением состава и модификацией микро- и наноструктур, интегральных микросхем на растровом электронно-ионном микроскопе высокого разрешения, в том числе получение поперечных сечений с использова

14 сентября 2018
168
Виды услуг
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Регламент предоставления услуги
Оборудование, с использованием которого выполняется услуга
Ориентировочная стоимость договорная
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет
Описание опыта выполнения аналогичных услуг

Описание

Методы исследования: просвечивающая (ПЭМ) и растровая (РЭМ) электронная микроскопия, фокусированный ионный пучок, оптическая микроскопия