Определение топографии поверхности образца с атомным разрешением ~10 нм по оси z и ~1 нм в плоскости xy (зависит от используемого зонда)
14 сентября 2018
253
| Виды услуг | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | — |
| Ориентировочная стоимость | договорная |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
| Описание опыта выполнения аналогичных услуг | — |
Описание
Исследования производятся на оборудовании: Атомно-силовой микроскоп с контроллером Nanoscope III A. Максимальная область сканирования 150х150 мкм в плоскости xy и 6 мкм по оси z. Изучаемая поверхность может контактировать как с воздухом, так и с жидкой фазой.