Определение топографии поверхности образца с атомным разрешением ~10 нм по оси z и ~1 нм в плоскости xy (зависит от используемого зонда)

14 сентября 2018
187
Виды услуг
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Регламент предоставления услуги
Оборудование, с использованием которого выполняется услуга
Ориентировочная стоимость договорная
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет
Описание опыта выполнения аналогичных услуг

Описание

Исследования производятся на оборудовании: Атомно-силовой микроскоп с контроллером Nanoscope III A. Максимальная область сканирования 150х150 мкм в плоскости xy и 6 мкм по оси z. Изучаемая поверхность может контактировать как с воздухом, так и с жидкой фазой.