Диагностика микро- и наноструктур электроники, наноматериалов, биоорганических нанообъектов
14 сентября 2018
296
| Виды услуг | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | — |
| Ориентировочная стоимость | договорная |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
| Описание опыта выполнения аналогичных услуг | — |
Описание
Заказной анализ широкого класса объектов методами:
вторичной ионной масс-спектрометрии (IMS-4F);
времяпролетной ионной масс-спектрометрии (IONTOF SIMS5); электронной сканирующей микроскопии (Supra 40); просвечивающей электронной микроскопии (Tecnai G2 F20 U-TWIN); зондовой микроскопии (СММ 2000); обратного резерфордовского рассеяния (К2МV); оже-спектроскопии (PHI-660); ИК фурье-спектроскопии (IFS 113-v); рентгеноструктурного анализа (ARL Xtra).
вторичной ионной масс-спектрометрии (IMS-4F);
времяпролетной ионной масс-спектрометрии (IONTOF SIMS5); электронной сканирующей микроскопии (Supra 40); просвечивающей электронной микроскопии (Tecnai G2 F20 U-TWIN); зондовой микроскопии (СММ 2000); обратного резерфордовского рассеяния (К2МV); оже-спектроскопии (PHI-660); ИК фурье-спектроскопии (IFS 113-v); рентгеноструктурного анализа (ARL Xtra).