Диагностика микро- и наноструктур электроники, наноматериалов, биоорганических нанообъектов

14 сентября 2018
175
Виды услуг
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Регламент предоставления услуги
Оборудование, с использованием которого выполняется услуга
Ориентировочная стоимость договорная
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет
Описание опыта выполнения аналогичных услуг

Описание

Заказной анализ широкого класса объектов методами:
вторичной ионной масс-спектрометрии (IMS-4F);
времяпролетной ионной масс-спектрометрии (IONTOF SIMS5); электронной сканирующей микроскопии (Supra 40); просвечивающей электронной микроскопии (Tecnai G2 F20 U-TWIN); зондовой микроскопии (СММ 2000); обратного резерфордовского рассеяния (К2МV); оже-спектроскопии (PHI-660); ИК фурье-спектроскопии (IFS 113-v); рентгеноструктурного анализа (ARL Xtra).