Измерение спектральных зависимостей фотопроводимости в полупроводниковых структурах в диапазоне волновых чисел 10-5000 см-1
14 сентября 2018
244
Виды услуг | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
Регламент предоставления услуги | — |
Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | — |
Ориентировочная стоимость | от 50 000 руб. |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание опыта выполнения аналогичных услуг | — |
Описание
Определение напряжений в полупроводниковых материалах прозрачных в ближней ИК области с помощью метода фотоупругости. Измерение микрохрупкости и микротвердости в диапазоне температур 100-600oС с помощью индентора Кнуппа и Виккерса. Измерение микронеоднородности распределения удельного сопротивления и концентрации свободных носителей заряда в монокристаллах Ge и Si методом сопротивления растекания согласно стандарту ASTM F672. Проведение комплексных исследований физическо-химических и структурных свойств образцов кристаллов кремния