Выполнение комплексных рентгено-дифракционных исследований
14 сентября 2018
245
| Виды услуг | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Нижегородская область, Нижний Новгород |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | — |
| Ориентировочная стоимость | договорная |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
| Описание опыта выполнения аналогичных услуг | — |
Описание
Определение концентрации 2-х компонентных твердых растворов и уровня остаточных упругих напряжений в эпитаксиальных слоях GexSi1-x; InxGa1-xAs; GaAs1-xPx; InAs1-xPx; GaAs1-xNx и др. Определение параметров многослойных эпитаксиальных структур методом рентгеновской дифрактометрии. Толщина слоев, состав, период повторения. Измерение толщины тонких слоев и шероховатости поверхности по угловым спектрам рассеяния жесткого рентгеновского излучения. Определение параметров многослойных зеркал с помощью рентгеновской рефлектометрии. Толщина слоев, период повторения и дисперсия. Определение отклонения среза пластины от кристаллографической плоскости. Анализ эпитаксиальных слоев высокотемпературного сверхпроводника YBa2Cu3O7-d.