Выполнение исследований методом аналитической электронной микроскопии
14 сентября 2018
237
| Виды услуг | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Нижегородская область, Нижний Новгород |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | — |
| Ориентировочная стоимость | договорная |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
| Описание опыта выполнения аналогичных услуг | — |
Описание
Диагностика структуры тонких объектов (толщиной до ~ 100 нм) с помощью методов дифракции быстрых электронов и просвечивающей электронной микроскопии
Определение элементного состава объектов (количественные измерения), толщины и состава тонких пленок, построение карт распределения элементов и фаз с помощью методов энергодисперсионного рентгеновского микроанализа. Диагностика тонких объектов методом спектроскопии характеристических потерь электронов (включая количественные измерения толщины и состава тонких пленок). Морфометрический анализ субмикронных и нанометровых неоднородностей и частиц. Сканирующая электронная микроскопия разнообразных объектов (в том числе и непроводящих) без предварительной подготовки.
Формирование структур на поверхности твердого тела с помощью методов электронной литографии.
Определение элементного состава объектов (количественные измерения), толщины и состава тонких пленок, построение карт распределения элементов и фаз с помощью методов энергодисперсионного рентгеновского микроанализа. Диагностика тонких объектов методом спектроскопии характеристических потерь электронов (включая количественные измерения толщины и состава тонких пленок). Морфометрический анализ субмикронных и нанометровых неоднородностей и частиц. Сканирующая электронная микроскопия разнообразных объектов (в том числе и непроводящих) без предварительной подготовки.
Формирование структур на поверхности твердого тела с помощью методов электронной литографии.