Проведение исследований в различных режимах растровой электронной микроскопии неровных поверхностей в низком и высоком вакууме с высоким разрешением до *300 000 (характера излома, трещиноватости, коррозии, морфологии продуктов износа объекта или его преоб

Исследование неоднородности образца за счет превосходного разрешения мелкомасштабных деталей в режиме композиционного контраста, экспресс–оценка соотношения различных фаз, неразрушающий рентгеновский микроанализ элементов от B до U с точностью до 0,01%; исследование кристаллохимических параметров и ориентации зерен, получение прямого изображения кристаллических решеток и анализ дефектной структуры на наноуровне; определение элементного состава при содержаниях от n*10 % до n*10-4% в образцах горных пород, почв, экологических объектов, металлов.