Диагностика электрофизических параметров полупроводниковых микроструктур и нестационарная спектроскопия глубоких уровней
14 сентября 2018
231
Виды услуг | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Нижегородская область, Нижний Новгород |
Регламент предоставления услуги | — |
Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | — |
Ориентировочная стоимость | договорная |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание опыта выполнения аналогичных услуг | — |
Описание
Определение профиля легирования полупроводников методом электрохимического C-V профилирования. Определение высоты барьера в гетероструктурах GaAs/AlGaAs методом измерения температурных зависимостей вольтамперных характеристик.