Диагностика электрофизических параметров полупроводниковых микроструктур и нестационарная спектроскопия глубоких уровней

14 сентября 2018
145
Виды услуг
Страна, регион, город Российская Федерация, Нижегородская область, Нижний Новгород
Регламент предоставления услуги
Оборудование, с использованием которого выполняется услуга
Ориентировочная стоимость договорная
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет
Описание опыта выполнения аналогичных услуг

Описание

Определение профиля легирования полупроводников методом электрохимического C-V профилирования. Определение высоты барьера в гетероструктурах GaAs/AlGaAs методом измерения температурных зависимостей вольтамперных характеристик.