Изучение микроструктуры поверхности и объемных материалов, в том числе нано- и биоматериалов (с увеличением до 900 000 x)

Детальный анализ кристаллических упаковок с привлечением сведений из кристаллографических баз данных; качественный и количественный анализ кристаллических фаз; определение размеров кристаллитов; определение макро- и микронапряжений, изучение ближнего порядка кристаллов; измерения температурных и полевых зависимостей намагниченности, статической и динамической магнитной восприимчивости, теплоемкости транспортных свойств (удельное сопротивление, эффект Холла, критический ток) веществ и материалов в диапазоне магнитных полей до ± 9 Тл и температур 1,9 – 300 К.