Исследование и модификация электрических (проводимость, емкостная микроскопия) и магнитных свойств объектов методами сканирующей зондовой микроскопии
14 сентября 2018
454
| Виды услуг | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | — |
| Ориентировочная стоимость | договорная |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
| Описание опыта выполнения аналогичных услуг | — |
Описание
Определение толщин тонких плёнок. Исследование электрофизических характеристик структур и объектов (в том числе в СВЧ диапазоне). Электронная литография с предельным разрешением до 30 нм. Фотолитография с предельным разрешением до 500 нм.