Регистрация спектров ЯМР на ядрах 1H, 13С, 15N, 19F, 29Si, 31P, 77Se, 195Pt твердых непроводящих объектов и растворов веществ
14 сентября 2018
488
| Виды услуг | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Кемеровская область, Кемерово |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | — |
| Ориентировочная стоимость | договорная |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
| Описание опыта выполнения аналогичных услуг | — |
Описание
Получение изображений поверхности объектов на атомно-силовом микроскопе. Получение изображений поверхности объектов на сканирующем электронном микроскопе. Определение химических элементов (от B до U) на поверхности твердотельных образцов и их картирование методом аналитической сканирующей электронной микроскопии. Определение массовой концентрации химических элементов (от Li до U) в неорганических веществах и материалах методом атомно-эмиссионной спектроскопии.