Сканирующая электронная микроскопия с холодным катодом в режиме полевой эмиссии FE-SEM и разрешением 1 нм
14 сентября 2018
526
| Виды услуг | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | — |
| Ориентировочная стоимость | договорная |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
| Описание опыта выполнения аналогичных услуг | — |
Описание
Сканирующая (растровая) электронная микроскопия с холодным катодом в режиме полевой эмиссии и разрешением 1 нм