Сканирующая электронная микроскопия с холодным катодом в режиме полевой эмиссии FE-SEM и разрешением 1 нм

14 сентября 2018
241
Виды услуг
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Регламент предоставления услуги
Оборудование, с использованием которого выполняется услуга
Ориентировочная стоимость договорная
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет
Описание опыта выполнения аналогичных услуг

Описание

Сканирующая (растровая) электронная микроскопия с холодным катодом в режиме полевой эмиссии и разрешением 1 нм