Сканирующая электронная микроскопия с холодным катодом в режиме полевой эмиссии FE-SEM и разрешением 1 нм
14 сентября 2018
322
Виды услуг | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
Регламент предоставления услуги | — |
Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | — |
Ориентировочная стоимость | договорная |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание опыта выполнения аналогичных услуг | — |
Описание
Сканирующая (растровая) электронная микроскопия с холодным катодом в режиме полевой эмиссии и разрешением 1 нм