Определение химических элементов (от B до U) на поверхности твердотельных образцов и их картирование методом аналитической сканирующей электронной микроскопии

14 сентября 2018
216
Виды услуг
Страна, регион, город Российская Федерация, Кемеровская область, Кемерово
Регламент предоставления услуги
Оборудование, с использованием которого выполняется услуга
Ориентировочная стоимость договорная
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет
Описание опыта выполнения аналогичных услуг

Описание

Определение удельной поверхности, объема и размеров пор. Регистрация спектров ЯМР на ядрах 1H, 13С, 15N, 19F, 29Si, 31P, 77Se, 195Pt твердых непроводящих объектов и растворов веществ. Получение изображений поверхности объектов на атомно-силовом микроскопе. Получение изображений поверхности объектов на сканирующем электронном микроскопе.