Проектирование сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ, SPM), комбинированных систем атомно-силовой микроскопии и рамановской (АСМ-РАМАН, AFM-RAMAN) или инфракрасной спектроскопии (СЗМ-наноИК, AFM-nanoIR), контрольно-измерительных систем и метрологических к

14 сентября 2018
remove_red_eye28
Виды услуг
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Регламент предоставления услуги
Оборудование, с использованием которого выполняется услуга
Ориентировочная стоимость
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет
Описание опыта выполнения аналогичных услуг

Описание

Разработка сканирующих зондовых микроскопов, комбинированных систем атомно-силовой микроскопии и рамановской или инфракрасной спектроскопии, контрольно-измерительных систем и метрологических калибровочных стендов по техническому заданию Заказчика.
Ключевые слова: SPM, AFM, STM, SNOM, sSNOM, TERS, nanoIR, MFM, PFM, HD-PFM, PFM-SNOM, Hybrid Mode.