Измерения параметров полупроводников: FET (CMOS, HVMOS, OTFT, и т.д.), BJT, диодов, резисторов и других устройств как на пластине, так и в виде дискретных компонентов.

19 апреля 2019
524
Виды услуг
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Регламент предоставления услуги По запросу
Оборудование, с использованием которого выполняется услуга Система измерения фликкер-шума 3001B
Ориентировочная стоимость от 300 000 руб.
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет
Описание опыта выполнения аналогичных услуг 5 лет

Описание

Измерения параметров полупроводников: FET (CMOS, HVMOS, OTFT, и т.д.), BJT, диодов, резисторов и других устройств как на пластине, так и в виде дискретных компонентов.

Технические характеристики:

Диапазон частот: 1 Гц - 100 кГц
Смещение по постоянному току: ±50В, ±50мА (зависет от анализатора постоянного тока)
Шум при использовании малошумящего усилителя: 17 нВ/√Hz на 1 Гц, 2 нВ/√Hz на 100 Гц, 1,9 нВ/√Hz на 1 кГц
Шум тока: менее 50 фА/√Hz