Исследование морфологии поверхности и анализ элементного состава различных образцов на сканирующем электронном микроскопе (SEM/EDS/WDS/FIB)
3 июня 2026
15
| Виды услуг | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Регламент предоставления услуги | От 7 дней. Возможна работа по счетам и договорам. |
| Оборудование, с использованием которого выполняется услуга | Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) |
| Ориентировочная стоимость | договорная |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
| Описание опыта выполнения аналогичных услуг | 12 лет |
Описание
Исследование морфологии поверхности.
Анализ фазового контраста. Количественный и качественный анализ элементного состава.
Возможна пробоподготовка для СЭМ или оптической микроскопии.
Большой опыт работы с решением разнообразных научных и производственных задач.
Кроме получения изображений поверхности образцов при помощи детекторов SE/BSE доступно проведение исследований внутренней структуры обазцов с использованием резки ионным пучком FIB.
Проведение качественного и количественного рентгеноспектрального микроанализа (РСМА) с использованием детекторов EDS и WDS.
Работаю со всеми регионами РФ.
Анализ фазового контраста. Количественный и качественный анализ элементного состава.
Возможна пробоподготовка для СЭМ или оптической микроскопии.
Большой опыт работы с решением разнообразных научных и производственных задач.
Кроме получения изображений поверхности образцов при помощи детекторов SE/BSE доступно проведение исследований внутренней структуры обазцов с использованием резки ионным пучком FIB.
Проведение качественного и количественного рентгеноспектрального микроанализа (РСМА) с использованием детекторов EDS и WDS.
Работаю со всеми регионами РФ.