Программный комплекс ЭТИЛ с системой визуализации для моделирования ускорения заряженных частиц под действием мощного лазерного импульса методом PIC

Программный комплекс предназначен для задач моделирования ускорения заряженных частиц (электронов и ионов) под действием мощных лазерных импульсов. В комплексе реализован алгоритм метода PIC (метод частиц в ячейках), который позволяет изучать воздействие электромагнитного излучения на вещество, которое представляется комбинацией заряженных частиц. В методе решаются релятивистские уравнения движения совместно с уравнениями Максвелла, результатом являются распределение электрического и магнитного полей в зависимости от времени, траектории движения частиц, распределения частиц по импульсам и энергиям и другая полезная информация. Комплекс позволяет задавать различные параметры лазерного импульса, сорта частиц, профили плотности вещества, учитывает туннельную ионизацию и позволяет работать с различными типами граничных условий. Обработка результатов расчета осуществляется с помощью пакета Visit и набора специальных программ для визуализации.