Низкокогерентный интерферометр с дифракционной волной сравнения и источник двух сферических эталонных волн для него

Изобретение относится к технической физике, в частности к инструментам для исследования и измерения оптических элементов и систем. Низкокогерентный интерферометр с дифракционной волной сравнения содержит источник низкокогерентного света, делителя света, к выходам которого подключены две части оптоволокна, функцию средства для перенаправления света от исследуемого объекта на регистратор выполняет основная плоскость корпуса источника двух эталонных сферических волн. Источник двух эталонных сферических волн включает два отрезка оптического волокна, концы которых выполнены суженными с металлизированными до вершин скосами, при этом вторые концы отрезков оптического волокна жестко закреплены в корпусе под углом друг к другу, вершины отрезков зафиксированы в выходном отверстии на основной плоскости корпуса и отстоят друг от друга на расстоянии, сравнимом с диаметром сердцевины оптоволокна. При этом корпус снабжен крепежными элементами, а функцию средства для перенаправления света выполняет основная плоскость корпуса. Технический результат - повышение точности измерений и надежности работы интерферометра, а также увеличение рабочей апертуры интерферометра.