Способ обследования поверхности объекта инфракрасным прибором

14 сентября 2018
159
Предметная область
Отрасли по ОКВЭД
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Отличия от конкурентов
Вид документа об охране ИС изобретение
Номер документа ИС 2659457
Дата регистрации документа ИС 2018-07-02
Необходимые инвестиции для внедрения договорная
Сроки внедрения
Стоимость предоставления технологии договорная
Наличие экспертного заключения Нет

Польза для потенциального потребителя

Изобретение относится к области инфракрасной (ИК) термографии и радиометрическим способам измерения температуры и может быть использовано при визуализации и определении температурных полей на поверхности объектов с помощью тепловизионной техники и при пирометрических измерениях температуры. Способ осуществляют следующим образом. Перед началом обследования объекта проводят настройку ИК-прибора, заключающуюся во вводе в него параметров - величин температуры отраженного излучения и коэффициента излучения поверхности. Перед вводом параметров проводят их измерение тем же самым ИК-прибором. Для этого первоначально проводят измерение температуры отраженного излучения, для чего используют маркер с известным коэффициентом излучения и с относительной шероховатостью поверхности в рабочем спектральном диапазоне ИК-прибора RSh=δ/λ, аналогичной относительной шероховатости поверхности обследуемого объекта (δ - шероховатость поверхности (мкм), λ - средняя длина волны спектрального диапазона (мкм)). Относительные шероховатости считаются аналогичными, если они обе превышают единицу, меньше единицы или порядка единицы. В ИК-прибор вводят величину коэффициента излучения маркера, измеряют температуру маркера, например, контактным методом и проводят наблюдения маркера ИК-прибором, последовательно изменяя вводимую в него температуру отраженного излучения. При достижении наблюдаемой температуры маркера, близкой к его измеренной температуре, температуру отраженного излучения прекращают изменять и фиксируют в приборе. После этого приступают к измерению с помощью ИК-прибора коэффициента излучения на выбранном основном и, если необходимо, дополнительных реперных участках обследуемой поверхности. Для измерения коэффициента излучения на поверхности объекта могут создать выделенную зону с известным коэффициентом излучения, например, с помощью наклейки соответствующего маркера, вводят в прибор коэффициент излучения маркера, наблюдают температуру на маркере, а затем, изменяя вводимый в прибор коэффициент излучения, наблюдают температуру вблизи маркера, добиваясь ее совпадения с температурой маркера. В качестве другого метода измерения коэффициента излучения может быть использован метод, при котором на реперном участке измеряют температуру контактным методом. Затем проводят наблюдение реперного участка ИК-прибором, при котором также последовательно изменяют вводимую в прибор величину коэффициента излучения. После измерения и ввода в ИК-прибор коэффициентов излучения и температуры отраженного излучения, ИК-прибор готов для обследования поверхности. Технический результат - повышение точности обследований поверхности объектов ИК-приборами, которая может быть достигнута за счет повышения точности определения коэффициента излучения и температуры отраженного излучения.