Способ обследования поверхности объекта инфракрасным прибором

Изобретение относится к области инфракрасной (ИК) термографии и радиометрическим способам измерения температуры и может быть использовано при визуализации и определении температурных полей на поверхности объектов с помощью тепловизионной техники и при пирометрических измерениях температуры. Способ осуществляют следующим образом. Перед началом обследования объекта проводят настройку ИК-прибора, заключающуюся во вводе в него параметров - величин температуры отраженного излучения и коэффициента излучения поверхности. Перед вводом параметров проводят их измерение тем же самым ИК-прибором. Для этого первоначально проводят измерение температуры отраженного излучения, для чего используют маркер с известным коэффициентом излучения и с относительной шероховатостью поверхности в рабочем спектральном диапазоне ИК-прибора RSh=δ/λ, аналогичной относительной шероховатости поверхности обследуемого объекта (δ - шероховатость поверхности (мкм), λ - средняя длина волны спектрального диапазона (мкм)). Относительные шероховатости считаются аналогичными, если они обе превышают единицу, меньше единицы или порядка единицы. В ИК-прибор вводят величину коэффициента излучения маркера, измеряют температуру маркера, например, контактным методом и проводят наблюдения маркера ИК-прибором, последовательно изменяя вводимую в него температуру отраженного излучения. При достижении наблюдаемой температуры маркера, близкой к его измеренной температуре, температуру отраженного излучения прекращают изменять и фиксируют в приборе. После этого приступают к измерению с помощью ИК-прибора коэффициента излучения на выбранном основном и, если необходимо, дополнительных реперных участках обследуемой поверхности. Для измерения коэффициента излучения на поверхности объекта могут создать выделенную зону с известным коэффициентом излучения, например, с помощью наклейки соответствующего маркера, вводят в прибор коэффициент излучения маркера, наблюдают температуру на маркере, а затем, изменяя вводимый в прибор коэффициент излучения, наблюдают температуру вблизи маркера, добиваясь ее совпадения с температурой маркера. В качестве другого метода измерения коэффициента излучения может быть использован метод, при котором на реперном участке измеряют температуру контактным методом. Затем проводят наблюдение реперного участка ИК-прибором, при котором также последовательно изменяют вводимую в прибор величину коэффициента излучения. После измерения и ввода в ИК-прибор коэффициентов излучения и температуры отраженного излучения, ИК-прибор готов для обследования поверхности. Технический результат - повышение точности обследований поверхности объектов ИК-приборами, которая может быть достигнута за счет повышения точности определения коэффициента излучения и температуры отраженного излучения.