Программа для обработки экспериментальных и расчетных данных по рентгеновской фотоэлектронной дифракции и фотоэлектронной голографии (XPDProcessor)

Программа предназначена для обработки экспериментальных и теоретических данных рентгеновской фотоэлектронной дифракции и фотоэлектронной голографии. Программа включает в себя обработку первичных рентгеновских фотоэлектронных спектров, построение стереографических проекций фотоэлектронной дифракции (или голограмм), теоретические расчеты дифракционных картин на основе модельных кластеров, описывающих структуру поверхности, оптимизацию структурных параметров с помощью минимизации R-фактора согласования теории и эксперимента. Программа позволяет проводить реконструкцию ближайшего окружения атомов-эмиттеров и визуализировать структуру поверхности в 3D формате. Программа объединяет методы рентгеновской фотоэлектронной дифракции и фотоэлектронной голографии в единый комплексный метод структурного анализа поверхности с разрешением химических состояний элементов. XPDProeessor поддерживает работу с программами EDAC для расчета фотоэлектронной дифракции и SPEA-MEM для реконструкции структуры поверхности из голограмм. Программа применяется для изучения структуры поверхностей твердых тел на глубину до нескольких нанометров.