Способ и устройство для определения длины диффузии носителей заряда в полупроводниковых пластинках

Трушко Ольга Владимировна
22 сентября 2021
48
Предметная область
Измерительное оборудование|Технические системы и процессы управления|Физика|Электроника|Энергоэффективность и энергосбережение
Отрасли по ОКВЭД
85.22. Образование высшее
Страна, регион, город Российская Федерация, Санкт-Петербург
Отличия от конкурентов
Вид документа об охране ИС изобретение
Номер документа ИС 2578731
Дата регистрации документа ИС 2016-03-01
Необходимые инвестиции для внедрения договорная
Сроки внедрения
Стоимость предоставления технологии договорная
Наличие экспертного заключения Нет

Польза для потенциального потребителя

Техническим результатом предлагаемого способа является возможность выполнять измерения длины диффузии носителей заряда в полупроводниковых пластинах без установления электрического контакта с образцом, в том числе в пластинах, покрытых слоем прозрачного диэлектрика.
Техническим результатом устройства является расширение возможностей выполнения измерения длины диффузии носителей заряда в полупроводниковых пластинах без установления электрического контакта с образцом, в том числе непосредственно в тех областях, где будут изготовлены приборы, и без изменения свойств пластины, а также в пластинах, покрытых слоем прозрачного диэлектрика.