Программа «SEUSIM» для моделирования сбоев в КМОП КНИ и КМОП ИС на объемном кремнии при воздействии отдельных ядерных частиц (ОЯЧ) или при импульсном ионизирующем воздействии (ИИВ). Версия 1.0 (совместно с Открытое акционерное общество Экспериментальное н

Грехов Максим Михайлович
14 сентября 2018
91
Предметная область
Отрасли по ОКВЭД
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Отличия от конкурентов
Вид документа об охране ИС программа для ЭВМ
Номер документа ИС 201466225
Дата регистрации документа ИС 2014-11-26
Необходимые инвестиции для внедрения договорная
Сроки внедрения
Стоимость предоставления технологии договорная
Наличие экспертного заключения Нет

Польза для потенциального потребителя

Программа предназначена для моделирования сбоев в ячейках памяти и логических элементах КМОП ИС, возникающих при воздействии отдельных ядерных частиц или при импульсном ионизирующем воздействии. Программа имеет следующие особенности: для построения модели используется минимальное число параметров (для формирования ВАХ транзистора используется 7 параметров); зависимость тока стока от напряжения на затворе аппроксимируется квадратично-линейной зависимостью, обеспечивающей более высокую точность по сравнению с чисто квадратичной или с чисто линейной аппроксимациями. Программа позволяет моделировать фрагменты КМОП КНИ и КМОП ИС на объемном кремнии до 1000 транзисторов с приемлемым соответствием результатов с ВSIM-моделями и идентификацией радиационных параметров моделей транзисторов по результатам расчетно-экспериментального конструктивно-топологического моделирования.