Сканирующий конфокальный микроскоп OLYMPUS LEXT OLS-300
14 сентября 2018
380
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
Страна производства | Япония |
Год производства | 2014 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Стоимость предоставления услуг | от 40 000 руб. |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Бесконтактный анализ шероховатости как гладких, так и грубых поверхностей с использованием интуитивно понятного программного обеспечения. Высокоточные измерения в режиме 2D и 3D в диапазоне от 1 мкм до 1.5 мм по каждой оси, например толщины прозрачных тонких пленок, глубины, площади, периметра, углов, радиусов и др. морфологических характеристик объектов. Воспроизводимость измерений 0,02 мкм по горизонтали и 0,052 мкм по вертикали.