Наименование |
Страна производства |
Условия использования |
Расположение |
Стенд TM-1000 tabletop SEM для настольного электронного сканирующего микроскопа TM-1000 (Hitachi) |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
Система для исследования наноразмерных объектов на базе сканирующего зондового микроскопа Solver PRO-M (НТ-МДТ) |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
Дифрактометрический модуль для растрового электронного микроскопа EVO 40 EBSD-120404-SPB-1(Oxford Instruments) |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
Электромеханическая ячейка "GPI" с прецизионной механикой и электронным блоком управления процессом изготовления игл для СТМ |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
Комплект приставок для проведения тонких исследований на трансмиссионном электронном микроскопе Tecnai 20 |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Новосибирск |
Комплект приставок для проведения тонких исследований на электронном микроскопе EV 050 XVP |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Новосибирск |
Камера для микроскопа Nikon DS-Fi2 5.0 Mega Pixels Color Digital Camera Head |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Петропавловск-Камчатский |
Интегрированная система для проведения одновременных измерений АСМ и КР Ntegra-Spectra/NT-MDT |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Ставрополь |
Платформа учебно-аналитическая для исследования качества, состава и электрофизических свойств графена и его производных |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Якутск |