Аналитический комплекс на базе просвечивающего электронного микроскопа Tecnai G2 20 TWIN (FEI)
14 сентября 2018
570
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
Страна производства | Нидерланды |
Год производства | 2008 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Стоимость предоставления услуг | от 9 000 руб. |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследования структуры и химического состава образцов на атомарном уровне (паспортное разрешение до 1,6 ангстрема, фактическое – на уровне 2 ангстрема). Микроскоп оснащен приставкой для проведения энергодисперсионного рентгеновского анализа (диапазон фиксируемых элементов от В до U), разрешение по энергии не более 138 эВ, обеспечивает построение двумерных карт распределения элементов, распределения элементов вдоль линии и элементный анализ в точке. Приставка режима сканирования обеспечивает получение изображения с высоким разрешением (разрешение 1 нм). Микроскоп имеет многопользовательский интерфейс с сохранением индивидуальных настроек для каждого вида эксперимента.