Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
Страна производства | Япония |
Год производства | 2010 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Стоимость предоставления услуг | договорная |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Прибор предназначен для изучения структуры тонких образцов с помощью пучка электронов. Благодаря меньшей, чем у света длине волны электронов прибор позволяет изучать образцы с разрешением в десятки тысяч раз превосходящим разрешение самого совершенного светооптического микроскопа. С помощью данного прибора возможно изучение объектов на атомарном уровне.