Аналитико-технологический комплекс для исследований наноструктур Ntegra-Spectra (НТ-МДТ)
14 сентября 2018
475
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Уникальная интеграция сканирующего зондового микроскопа с конфокальной микроскопией/спектроскопией люминесценции и комбинационного рассеяния (КР). Атомно-силовая микроскопия; Оптическая микроскопия и конфокальная лазерная (Рэлеевская) микроскопия; Конфокальная КР микроскопия; Конфокальный флуоресцентный анализ: изображение и спектроскопия; Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ); Зондово-усиленная КР / флуоресцентная спектроскопия (TERS, TEFS)