Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9010MX (Jeol)
14 сентября 2018
473
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Башкортостан, Уфа |
Страна производства | Япония |
Год производства | 2012 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр Jeol JPS 9010 (Япония) позволяет проводить анализ элементного (химического) состава поверхности и по глубине поверхностного слоя материалов деталей на различных этапах (технологиях) их изготовления, а также после длительной эксплуатации (воздействия температуры, окислительной среды, нагрузки). Данный спектрометр эффективно используется для контроля технологических параметров и режимов нанесения наноструктурных покрытий на поверхность деталей, а также для оценки их эксплуатационных характеристик.