| Наименование |
Страна производства |
Условия использования |
Расположение |
| Измерительный комплекс на базе двухлучевого интерферометра и анализатора сигналов TF Double Beam Laser Interferometer (Aixacct) |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Ростов-на-Дону |
| Аналитический комплекс для характеризации свойств поверхноститвердого тела методом полной эллипсометрии ЭЛЛИПС-АМ |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Новосибирск |
| Комплекс измерения шероховатости на основе интерференции микроскопии TALYSURF CCI 6000 (Taylor) |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Технологический комплекс напыления тонких пленок металлов SEGI-RFA3-4TR |
США |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Спектральный эллипсометрический комплекс ЭЛЛИПС-1891 САГ (ИФП СО РАН) |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Владивосток |
| Учебно-научный комплекс, зондовая станция "Nanoeducator II" (НТ-МДТ) |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Владимир |
| Исследовательский комплекс для анализа зеренной структуры магнетит-гематитовых руд |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Тамбов |
| Спектрометрический комплекс PHOIBOS-150 (SPECS) для исследования поверхности |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Владивосток |
| Комплекс аналитический GCMS-QP2010 Ultra (Shimadzu) |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Екатеринбург |
| Технологический комплекс напыления тонких пленок металлов |
США |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
