Аналитический комплекс для характеризации свойств поверхноститвердого тела методом полной эллипсометрии ЭЛЛИПС-АМ
14 сентября 2018
527
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Новосибирская область, Новосибирск |
Страна производства | РФ |
Год производства | 2015 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 500 тыс. до 1 млн. руб. |
Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для нанодиагностики поверхности шероховатых, неоднородных и анизотропных материалов и слоистых наноструктур методом полной эллипсометрии. Работа комплекса основана на измерения полного вектора Стокса или 16 элементов матрицы Мюллера, которые дают исчерпывающую информацию об оптических свойствах анизотропной, а также несовершенной диффузно-ассеивающей поверхности деполяризующих материалов применяемых в наноиндустрии.