Приставка для анализа тонких пленок в комплекте с программным обеспечением к рентгеновскому дифрактометру XRD-7000 (Shimadzu)
Приставка для анализа тонких пленок в комплекте с программным обеспечением к рентгеновскому дифрактометру XRD-7000 (Shimadzu)

Приставка для анализа тонких пленок в комплекте с программным обеспечением к рентгеновскому дифрактометру XRD-7000 (Shimadzu)

Пермский национальный исследовательский политехнический университет
14 сентября 2018
540
Классификация оборудования
Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие
Страна, регион, город Российская Федерация, Пермский край, Пермь
Страна производства Япония
Год производства 2012
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 500 тыс. до 1 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги Услуги предоставляются в рамках договорных отношений
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Приставка используется для анализа тонких пленок, полностью совместима с рентгеновским дифрактометром XRD-7000S. Приставка для исследования тонких пленок включает: приставку, плоский монохроматор с Cu-мишенью и программное обеспечение
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Микроанализатор с прямым лазерным и с дуговым источниками возбуждения, предназначенный для лазерного элементного спектрального микроанализа органических и неорганических материалов. ОММЗ.450.501-М РФ Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Высоковакуумный фотоэлекторнный спектрометр ESCAprobe для исследований химических соединений в газовой фазе методами рентгеновской и ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС, УФЭС) Германия Аренда, Заказ исследования Владивосток
Встраиваемый масс-спектрометр - газоанализатор е-Vision 2 (MKS Instrument) для исследования радиационно- и термо- стимулированного газовыделения из металлов и сплавов США Аренда, Заказ исследования Томск
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с построением изображения для фундаментальных и прикладных исследований полупроводниковых материалов Axis UltraDLD (Kratos) Великобритания Аренда, Заказ исследования Москва
Аналитический комплекс для характеризации свойств поверхноститвердого тела методом полной эллипсометрии ЭЛЛИПС-АМ РФ Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Прибор для изучения физической адсорбции Gemini VII 2390 Surface Area Analyzer США Аренда, Заказ исследования Москва
Вакуумная установка для напыления проводящих и диэлектрических слоев SunPla 600 TEM (SunPlaEng) Корея Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Фотоэлектронный спектрометр для исследования химического состава наночастиц на поверхности твердого тела Польша Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Комплект дополнительного оборудования для проведения исследований на рентгено-флуоресцентном спектрометре Швейцария Аренда, Заказ исследования Саранск
Аппарат для напыления на биологические образцы EM SCD 500 (Leica) Австрия Аренда, Заказ исследования Новосибирск