Приставка для анализа тонких пленок в комплекте с программным обеспечением к рентгеновскому дифрактометру XRD-7000 (Shimadzu)
Приставка для анализа тонких пленок в комплекте с программным обеспечением к рентгеновскому дифрактометру XRD-7000 (Shimadzu)

Приставка для анализа тонких пленок в комплекте с программным обеспечением к рентгеновскому дифрактометру XRD-7000 (Shimadzu)

Пермский национальный исследовательский политехнический университет
14 сентября 2018
873
Классификация оборудования
Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности прочие
Страна, регион, город Российская Федерация, Пермский край, Пермь
Страна производства Япония
Год производства 2012
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 500 тыс. до 1 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги Услуги предоставляются в рамках договорных отношений
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Приставка используется для анализа тонких пленок, полностью совместима с рентгеновским дифрактометром XRD-7000S. Приставка для исследования тонких пленок включает: приставку, плоский монохроматор с Cu-мишенью и программное обеспечение
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Зондовая станция для тестирования печатных плат 2210-LS (Micromanipulator) США Аренда, Заказ исследования Москва
Мобильный ОЧГ спектрометр для полевого применения СЕГР-MCA527 (ВНИИ Спектр) РФ Продажа Москва
Установка для определения размера пор и распределении их по размерам РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Вакуумная установка для напыления проводящих и диэлектрических слоев SunPla 600 TEM (SunPlaEng) Корея Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Встраиваемый масс-спектрометр - газоанализатор е-Vision 2 (MKS Instrument) для исследования радиационно- и термо- стимулированного газовыделения из металлов и сплавов США Аренда, Заказ исследования Томск
Оборудование для подготовки проб к анализу на ренгенофлуорисцентных спектрометрах Германия Аренда, Заказ исследования Ростов-на-Дону
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с построением изображения для фундаментальных и прикладных исследований полупроводниковых материалов Axis UltraDLD (Kratos) Великобритания Аренда, Заказ исследования Москва
Наносклерометрический модуль для СЗМ комплекса Интегра Прима «ЗАО НТМДТ» РФ Аренда, Заказ исследования Воронеж
Доплееровский измеритель для вертикального профиля до 25 м. Китай Аренда, Заказ исследования Ханты-Мансийск
Микроскоп для исследования поверхности оптическими методами ЛВ-31 РФ Аренда, Заказ исследования Пенза