Аналитический комплекс на базе сканирующего (растрового) электронного микроскопа TESCAN Vega II SBU
14 сентября 2018
367
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Великобритания |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Позволяет исследовать микроструктуры вещества
Состоит из
- сканирующий (растровый) электронный микроскоп с вольфрамовым катодом с термоэлектронной эмиссией TESCAN Vega II SBU;
- система для определения элементного (химического) состава на основе полупроводникового энергодисперсионного детектора Inca Energy 250 с безазотным детектором X-act;
Состоит из
- сканирующий (растровый) электронный микроскоп с вольфрамовым катодом с термоэлектронной эмиссией TESCAN Vega II SBU;
- система для определения элементного (химического) состава на основе полупроводникового энергодисперсионного детектора Inca Energy 250 с безазотным детектором X-act;