Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL) с оборудованием для пробоподготовки
14 сентября 2018
667
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2009 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Наблюдение реальной структуры твердого объекта: точечных дефектов, дислокаций, межфазных границ и т.д. Исследование кристаллохимических параметров и ориентации зерен. Получение прямого изображения кристаллических решеток и сканирующих темно-польных изображений. Исследование неоднородных материалов методами линейного сканирования и EDS-картирования, в том числе процессов диффузии, характера изменения концентраций элементов вблизи границ фаз, перераспределения элементов на дефектах решеток.