Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL) с оборудованием для пробоподготовки
14 сентября 2018
432
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
Страна производства | Япония |
Год производства | 2009 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Стоимость предоставления услуг | договорная |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Наблюдение реальной структуры твердого объекта: точечных дефектов, дислокаций, межфазных границ и т.д. Исследование кристаллохимических параметров и ориентации зерен. Получение прямого изображения кристаллических решеток и сканирующих темно-польных изображений. Исследование неоднородных материалов методами линейного сканирования и EDS-картирования, в том числе процессов диффузии, характера изменения концентраций элементов вблизи границ фаз, перераспределения элементов на дефектах решеток.