Система для исследования наноразмерных объектов на базе сканирующего зондового микроскопа Solver PRO-M (НТ-МДТ)

УНИВЕРСИТЕТ ИТМО
14 сентября 2018
712
Классификация оборудования
Приборы для микроскопических исследований
Страна, регион, город Российская Федерация, Санкт-Петербург
Страна производства РФ
Год производства 2010
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Атомно-силовой микроскоп с возможностью использования для апертурной сканирующей ближнепольной оптической микроскопии
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Микроскоп прямой Olympus СХ41 с поляризационной насадкой и флуоресцентным осветителем CX-RFA-2 в комплекте с видеокамерой DP71 (12.5 миллиона пикселей, эквивалентна ISO 200/400/800/1600) с программным обеспечением Cell-F, предназначенным для съемки многок Япония Аренда, Заказ исследования Красноярск
Комплекс для металлографического анализа включающий микроскоп, шлифовально-полировальный станок, стереомикроскоп Микроскоп Axivert 200 MAT, стереомикроскоп Stemi 2000-C (Carl Zeiss) Германия Аренда, Заказ исследования Якутск
Оптический микроскоп INM 100 (Vistek) с ультрафиолетовым источником в составе Программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС Германия Аренда, Заказ исследования Москва
Настольный автоматический напылительный комплекс токопроводящих покрытий для растровой электронной микроскопии Quorum Technologies Q150T ES Великобритания Аренда, Заказ исследования Краснодар
Микроскоп Axioscope A1 производства Cart Zeiss с программным обеспечением (FISH-диагностика) Axiovision 4.6 для управления камерой Германия Аренда, Заказ исследования Саратов
Электронный растровый микроскоп c приставками для измерения катодолюминесценции и элементного анализа методом EDS JSM 7001FA (JEOL) Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Электронный микроскоп серии Zeiss Supra 55 с блоком для электронно-лучевого экспонирования Raith 150 Германия Аренда, Заказ исследования Томск
Электромеханическая ячейка "GPI" с прецизионной механикой и электронным блоком управления процессом изготовления игл для СТМ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Микроскоп биологический лазерный сканирующий для лабораторных исследований LSM 780 NLO (Carl Zeiss) Германия Аренда, Заказ исследования Томск
Микроскоп инвертированный для лабораторных исследований Axio Observer (Carl Zeiss) со штативом США Аренда, Заказ исследования Барнаул