Комплекс бесконтактного исследования структуры поверхности NEWVIEW 7300
14 сентября 2018
382
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Пермский край, Пермь |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 300 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Позволяет получить графические изображения и проводить числовой анализ высокого разрешения с целью высокоточного описания структуры поверхности исследуемого образца. NewView основан на принципе сканирующей интерферометрии белого света, позволяющей получать изображения и измерять микроструктуру и топографию поверхностей в трех измерениях. Может быть измерен широкий спектр различных поверхностей.