| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 1992 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 500 тыс. до 1 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Данная установка предназначена для модификации свойств поверхности различных деталей с целью улучшения их характеристик (например, увеличения износостойкости, усталостной прочности, увеличения сопротивления коррозии и т.д.) путём микролегирования поверхностных слоёв методом ионной имплантации.
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Времяпролетный вторично-ионный масс-спектрометр TRIFT NanoTof (PHI) | США | Аренда, Заказ исследования | Санкт-Петербург |
| Масс-спектрометр времяпролетный вторично-ионный TOF.SIMS.5 (ION-TOF) | Германия | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Вторично-ионный масс-спектрометр ионный зонд IMS - 4f (Cameca) | Франция | Аренда, Заказ исследования | Москва |