Универсальный аналитический комплекс растровой электронной микроскопии Merlin (Carl Zeiss)
14 сентября 2018
262
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Татарстан, Казань |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 120 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Позволяет получать морфологию поверхности с разрешающей способностью 0,8 нм. Комплекс совмещен с энерго-дисперсионным спектрометром для анализа элементного состава исследуемых образцов. Дополнительный HKL-детектор измеряет структурные параметры кристаллов.